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TEB-800PF高溫快速溫度變化試驗(yàn)箱特別說明 產(chǎn)品具有簡(jiǎn)單的操作性能和可靠的設(shè)備性能為用戶檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個(gè)模擬環(huán)境，如檢驗(yàn)芯片在高低溫交替時(shí)的工作狀態(tài)、電子產(chǎn)品外殼的熱脹冷縮情況等。

高溫快速溫度變化試驗(yàn)箱溫度老化實(shí)驗(yàn)儀器 產(chǎn)品具有簡(jiǎn)單的操作性能和可靠的設(shè)備性能為用戶檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件